HJRD31導波雷達物位計是采用微波技術(shù)來檢測料位的高科技產(chǎn)品，該料位儀利用微波具有穿透性好，對惡劣環(huán)境及被測物料適應性強等特點，采用世界上先進的大規(guī)模集成電路，利用雷達原理、數(shù)字信號處理技術(shù)和快速傅里葉變換（FFT）技術(shù)。采用連續(xù)式乍動測量，能測量液體、固體（塊狀、粉狀）料位，具有測距遠、精度高等特點。
HJRD31導波雷達物位計具有低維護，高性能、高精度、高可靠性，使用壽命長等優(yōu)點。在與電容，重錘等接觸式儀表相比較，具有無可比擬的優(yōu)越性。微波信號的傳輸不受大氣的影響，所以它可以滿足工藝過程中揮發(fā)性氣體、高溫、高壓、蒸汽、真空及高粉塵等惡劣環(huán)境的要求。該產(chǎn)品適用于高溫、高壓、真空、蒸汽、高粉塵及揮發(fā)性氣體等惡劣環(huán)境。可對不同料位進行連續(xù)測量。該儀器主要技術(shù)指標達到或優(yōu)于國內(nèi)外同類產(chǎn)品,且安裝調(diào)試簡便，可以單臺使用，也可組網(wǎng)使用，可廣泛應用于冶金、建材、能源、石化、水利、糧食等行業(yè)。
HJRD31導波雷達物位計具有低維護，高性能、高精度、高可靠性，使用壽命長等優(yōu)點。在與電容，重錘等接觸式儀表相比較，具有無可比擬的優(yōu)越性。微波信號的傳輸不受大氣的影響，所以它可以滿足工藝過程中揮發(fā)性氣體、高溫、高壓、蒸汽、真空及高粉塵等惡劣環(huán)境的要求。該產(chǎn)品適用于高溫、高壓、真空、蒸汽、高粉塵及揮發(fā)性氣體等惡劣環(huán)境。可對不同料位進行連續(xù)測量。該儀器主要技術(shù)指標達到或優(yōu)于國內(nèi)外同類產(chǎn)品,且安裝調(diào)試簡便，可以單臺使用，也可組網(wǎng)使用，可廣泛應用于冶金、建材、能源、石化、水利、糧食等行業(yè)。
導波雷達物位計技術(shù)參數(shù):
應 用：液體、固體顆粒
測量范圍：30米
過程連接：螺紋、法蘭
過程溫度：-40~250℃
過程壓力：-0.1~2MPa
精 度：±3mm
頻率范圍：100MHZ-1.8GHZ
防爆等級：Exia IIC T6
防護等級：IP67
信號輸出：4—20mA/HART（兩線）
應 用：液體、固體顆粒
測量范圍：30米
過程連接：螺紋、法蘭
過程溫度：-40~250℃
過程壓力：-0.1~2MPa
精 度：±3mm
頻率范圍：100MHZ-1.8GHZ
防爆等級：Exia IIC T6
防護等級：IP67
信號輸出：4—20mA/HART（兩線）
導波雷達物位計使用說明：
測量原理
基于時間行程原理的測量儀表，雷達波以光速運行，運行時間可以通過電子部件被轉(zhuǎn)換成物位信號。探頭發(fā)出高頻脈沖并沿纜繩傳播，當脈沖遇到物料表面時反射回來被儀表內(nèi)的接收器接收，并將距離信號轉(zhuǎn)化為物位信號。
測量原理
基于時間行程原理的測量儀表，雷達波以光速運行，運行時間可以通過電子部件被轉(zhuǎn)換成物位信號。探頭發(fā)出高頻脈沖并沿纜繩傳播，當脈沖遇到物料表面時反射回來被儀表內(nèi)的接收器接收，并將距離信號轉(zhuǎn)化為物位信號。
輸入
反射的脈沖信號沿纜繩傳導至儀表電子線路部分，微處理器對此信號進行處理，識別出微波脈沖在物料表面所產(chǎn)生的回波。正確的回波信號識別由智能軟件完成，距離物料表面的距離 D 與脈沖的時間行程 T 成正比： D=C×T/2 其中 C 為光速因空罐的距離 E 已知，則物位 L 為： L=E-D
輸出
通過輸入空罐高度 E（= 零點），滿罐高度 F（= 滿量程）及一些應用參數(shù)來設定，應用參數(shù)將自動使儀表適應測量環(huán)境。對應于 4－20mA輸出。
反射的脈沖信號沿纜繩傳導至儀表電子線路部分，微處理器對此信號進行處理，識別出微波脈沖在物料表面所產(chǎn)生的回波。正確的回波信號識別由智能軟件完成，距離物料表面的距離 D 與脈沖的時間行程 T 成正比： D=C×T/2 其中 C 為光速因空罐的距離 E 已知，則物位 L 為： L=E-D
輸出
通過輸入空罐高度 E（= 零點），滿罐高度 F（= 滿量程）及一些應用參數(shù)來設定，應用參數(shù)將自動使儀表適應測量環(huán)境。對應于 4－20mA輸出。
測量范圍
F---- 測量范圍
E---- 空罐距離
B---- 頂部盲區(qū)
K---- 探頭到罐壁距離
頂部盲區(qū)是指物料高料面與測量參考點之間的距離。
底部盲區(qū)是指纜繩底部附近無法精確測量的一段距離。
頂部盲區(qū)和底部盲區(qū)之間是有效測量距離。
F---- 測量范圍
E---- 空罐距離
B---- 頂部盲區(qū)
K---- 探頭到罐壁距離
頂部盲區(qū)是指物料高料面與測量參考點之間的距離。
底部盲區(qū)是指纜繩底部附近無法精確測量的一段距離。
頂部盲區(qū)和底部盲區(qū)之間是有效測量距離。
